Главная Карта сайта Обратная связь
ТКМ - компьютеры и комплектующие
Курс $ на 01:05:2008 - 25 руб.
Главная | Новости | CMOS-датчики изображения переходят на 130-нм нормы
Компьютеры
Системные блоки
Процессоры
Материнские платы
Корпуса
Память
Винчестеры
Колонки
Видео карты
Принтеры
Расходные материалы *
Источники БП
Ноутбуки
Разное
Модемы
КПК
Тюнеры
Оптические приводы
МФУ
Мониторы TFT
GPS
Apple
металлодетекторы
версия для печати
Ваша корзина /  пуста
07.09.2006
CMOS-датчики изображения переходят на 130-нм нормы

Южнокорейская компания Dongbu Electronics объявила о завершении разработки технологического процесса для выпуска CMOS-датчиков изображения (CMOS Image Sensor, CIS) по нормам 130 нм. Как отмечает компания, освоение 130-нм норм в производстве датчиков этого типа - серьезный прогресс, который стал возможен благодаря сотрудничеству с компанией Seoul Electronics & Telecom, специализирующейся на разработке чипов CIS. Серийный выпуск чипов по новым нормам Dongbu рассчитывает начать в четвертом квартале текущего года.

vspace

Переход с используемых сейчас 180-нм норм на 130-нм позволит выпускать CIS-датчики разрешением 1,3 Мп, работающие от низковольтного источника (1,5 В). Такие датчики являются идеальным выбором для сотовых телефонов и других миниатюрных устройств, включая цифровые камеры, КПК и автомобильные сенсоры.

Производитель утверждает, что CIS-датчики, которые будут выпускаться по новому техпроцессу, помимо повышенного разрешения обеспечивают лучшую передачу полутонов и практически снимают проблему так называемого «темнового тока», которая считается наиболее сложной проблемой CIS-датчиков.

www.ixbt.com
Полный адрес статьи

все новости

© Developed by 2006
© Компания ТКМ 2008
О компании - Новости - Интернет-магазин - Прайс-лист
Кредит - Статьи и обзоры - Каталог - Контакты
Полезные ресурсы